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三维定位镀层测厚仪器

  • 更新时间:  2020-08-17
  • 产品型号:  E3-3D
  • 简单描述
  • 三维定位镀层测厚仪器
    eLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,赶超其他品牌或同品牌的组装探测器。
详细介绍

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

1.1全自动三维样品台

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>

 

1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>

 

1.3小光斑设计

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>

 

1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>

 三维定位镀层测厚仪器

1.5多规格样品仓

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>

 三维定位镀层测厚仪器

1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器。..........................................................................................................................................................................

E3-3D:<strong>三维定位镀层测厚仪器</strong>


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