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镀层测厚仪器、RoHS检测

  • 更新时间:  2020-08-17
  • 产品型号:  E8-SPR
  • 简单描述
  • 镀层测厚仪器、RoHS检测
    专业的镀层测厚仪器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告; E8-SPR采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据更精确,更稳定。
详细介绍

镀层测厚仪器、RoHS检测

外形特点:

● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。

● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。

● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。

● 可视化样品窗。

● 辐射防护:

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

● 辐射标志警示。

●迷宫式结构,防止射线泄漏。

● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

 镀层测厚仪器、RoHS检测

硬件技术:

● 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准。

● 技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术:

● 分析元素:Na~U之间元素。

● 分析时间:60秒。

● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层测厚模型、玩具指令等模型。

● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。

● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。

 

探测器

● 类型:X123探测器(采用原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 分辨率:145eV

● 信号处理系统DP5

 

X射线管

● 电    压 :0~50kV

● 最大电流 :2.0mA

● 最大功率 :50W

● 靶    材 :Mo

● Be窗厚度 :0.2mm

● 使用寿命 :大于2万小时

 

高压电源

● 输出电压:0~50kV

● 灯丝电流:0~2mA

● 最大功率:50W

● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05%

 

摄像头

● 微焦距

● 500万像素

 

准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换

 

其他配件

●进口高性能开关电源

●进口低噪声、大风量风扇


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